薄膜测厚仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的厚度测量。另外具有电脑通信接口，通过选购软件实现数据的性存储、查询、打印；软件功能强大，可将成组试验数据用柱形图或列表方式进行统计，试结报告可直接在局域网或广域网中进行传输。适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试，还可适用于纸张、纸板的厚度测试、箔片、硅片、金属片的厚度测、试纺织材料的厚度测试、固体电绝缘体的厚度测试。
薄膜测厚仪特点
1.通过显微光谱法测量高精度反射率（多层膜厚度，光学常数）；
2.头部集成了薄膜厚度测量所需功能；
3.区域传感器的安全机制；
4.显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）；
5.高速测量；
6.测量头对应各种客制化需求；
7.易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析；
8.支持各种自定义。
机械式测厚仪是一种接触式测厚设备，多采用高精度传感器，因为它的测试只和微小位移有关，所以对试样没有选择性。机械式测厚仪的测试精度主要取决于位移传感器的精度，环境温度和风速会影响传感器的精度，因此必须在实验室环境内使用。
薄膜测厚仪使用显微光谱法在微小区域内通过反射率进行测量，可进行高精度膜厚度、光学常数分析。可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。测量时间上，能达到1秒/点的高速测量，并且搭载了即使是初次使用的用户，也可容易出分析光学常数的软件。
